在开放式云的IBM量子设备上进行的摘要实验用于使用[4、2、2]编码的栅极序列来表征其容错。在IBMQ_BOGOTA和IBMQ_SANTIAGO设备中激活了多达100个逻辑门,我们发现[4,2,2,2]代码的逻辑门集可以被视为大于10门的门序列的故障耐受性。但是,某些电路不满足容错标准。在某些情况下,编码的门序序列显示出高的错误率,该误差率在≈0处较低。1,因此,这些电路中固有的误差无法通过经典后选择来减轻。实验结果与简单错误模型的比较表明,主要的门错误不能以流行的Pauli误差模型来表示。最后,当测试的电路仅限于产生较低尺寸的输出状态的电路时,评估容错标准是最准确的。
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