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电荷注入设备(CID)大约与几乎统一的电荷偶联装置(CCD)开发,但在科学成像群落中没有获得相同的认可。这主要是由于设计放大器必须“看到”整个设备的电容固有固有的较高读取噪声,而CCD由于小读出电容器而具有很低的读取噪声。然而,CID在历史上也表现出与CCD的辐射公差相比,其中一些设计在Mega-Rad范围内展示了功能。CCD众所周知,易受电离和非电离辐射损害的影响,这可以通过大大降低电荷传输效率,从而限制其在空间应用中的性能,从而从一个像素转移到下一个像素。
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