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NANO用户设施:( Nano用户设施(NUF)服务以收费提供给外部和内部用户)原子力显微镜(AFM)AFM(AFM)AFM(Agilent 5500)可用于检查材料的表面形态(例如导电,非导向,聚合物,聚合物,组合生物学样品等,均具有Atomic solutive。也可以分析样品的粒度和粗糙度。它还具有多种其他模式,例如磁力显微镜(MFM),电流传感原子力显微镜(CSAFM)等。场发射扫描电子显微镜(FESEM)FESEM(Carl Zeiss)可用于以非常高(大约1.5 nm)(约1.5 nm)(约1.5 nm)的所有材料(导电和非导导)成像。FESEM系统还配备了牛津仪器,英国制造了能源色散X射线分析(EDAX)系统,以进行组成分析,包括映射要检查的材料。高分辨率TE冷却检测器可以检测到原子数大于5的元素。 室/低温光致发光光致发光光谱仪(Horiba Jobin yvon)用于探测材料的光学特性,例如带隙,重组机制和缺陷检测。 高性能热电冷却检测器可以通过允许良好的信号与噪声比和较长的整合时间来检测更好的频谱。 规格➢激发来源:HE-CD激光器(λ= 325 nm)➢检测范围:350-900 nm➢温度范围:10-300 k元素。室/低温光致发光光致发光光谱仪(Horiba Jobin yvon)用于探测材料的光学特性,例如带隙,重组机制和缺陷检测。高性能热电冷却检测器可以通过允许良好的信号与噪声比和较长的整合时间来检测更好的频谱。规格➢激发来源:HE-CD激光器(λ= 325 nm)➢检测范围:350-900 nm➢温度范围:10-300 k

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