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出版物：专利 1. 绝缘层下腐蚀检查方法 - 第 I 部分 - 系统（2011 年 7 月提交）。 2. 绝缘层下腐蚀检查方法 - 第 II 部分 - 算法（2011 年 7 月提交）。 3. 监测转子叶片健康状况的方法和系统 - 第 I 部分（http://patents.justia.com/patent/20150184536）。 4. 监测转子叶片健康状况的方法和系统 - 第 II 部分（http://patents.justia.com/patent/20160169765）。 5. 确定转子不平衡的方法和系统 - 第 I 部分（2013 年 12 月提交）。 6. 确定转子不平衡的方法和系统 - 第 II 部分（http://patents.justia.com/patent/20160169765）。 7. 监测机器的系统和方法（http://patents.justia.com/patent/20150369687）。 8. 用于检查钢筋混凝土结构的系统和方法 (https://www.google.com/patents/US20150115980) 9. 用于测量感兴趣器官体积的方法和系统 (https://patents.google.com/patent/US20180085043A1) 10. 用于对深层组织进行成像的系统和方法 (2017 年 2 月提交)
Mahesh R Panicker，博士，IEEE 高级会员
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