图 1：顺序（即一次一个变量）贝叶斯优化 (BO)/自适应设计 (AD) 结果。实验和预测的残余电阻率比 (RRR) 定义为 300 K 电阻率与 4 K 电阻率之比，针对 5 个随机 (a)、7 (b)、9 (c) 和 11 (d) 样本（#6-11 通过 AD）以及预期改进 (EI) 值，其中最大值表示在 BO/AD 算法中要执行的下一个实验。在新的 AD 数据点附近的区域，不确定性趋于降低。转载自 Wakabayashi, YK；Otsuka, T.；Krockenberger, Y.；Sawada, H.；Taniyasu, Y.；Yamamoto, H。APL Materials 2019, 7 (10)[ 28 ]；根据知识共享署名（CC BY）许可证（http：//creativecommons.org/licenses/by/4.0/）获得许可。