根据数据质量解释档案横截面与 LET 拟合参数
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• 例子:对于易受影响的部分,低起始 LET 似乎与高饱和截面相关……但仅限于低 LET 时,但在较大的数据集中相关性不太明显,尤其是在不知道威布尔宽度和形状的情况下 • 但我们对起始 LET (LET 0 ) 和饱和截面 ( σ s ) 有多了解?如果我们知道威布尔 w 和 s,情况会有所不同吗? • 这些参数是如何确定的?最小二乘法?广义线性模型?用肉眼看?它们是最佳拟合还是有界的? • 不同的数据质量(例如 σ 与 LET 中的 LET 数量、每个点的事件数量)是否会导致不同的 LET 0 / σ s 估计值产生不同的误差?

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