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1 引言 光子探测器在量子通信应用中不可或缺 [1]。为确保检测结果的可靠性，重要的是对探测器在预期工作参数和可能的非预期条件下的使用进行特性分析。这种特性分析有助于揭示可能存在的缺陷和不完善之处。这些缺陷可能会导致错误的检测结果，更糟的是，在量子密码应用中，甚至可能出现可利用的漏洞。这种特性分析指导了提高量子系统鲁棒性的工作。多年来，据报道，各种基于雪崩光电二极管 [2-11] 和超导纳米线 [12-14] 的光子探测器遭受了许多攻击。这导致了对抗措施 [15,16] 和不完善不敏感协议 [17,18] 的发展。过渡边缘传感器 (TES) 是一种能够提供完全光子数分辨能力的光子探测器[19-21]。光学 TES 阵列正在开发中，并应用于少光子彩色成像[22-25]。TES 和铌酸锂波导的结合使得各种新的量子光学实验成为可能[26]。TES 的光子数分辨能力已用于表征固态单光子源[27]。它在光子数分辨探测器中也实现了最高的探测效率，在 1550 nm 处高达 95%[28-30]。这种类型的探测器用于需要高检测概率的各种应用，如无漏洞贝尔测试[31]。它的光子数分辨能力也可用于监测
在过渡边缘传感器上伪造光子数
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