机构名称：
¥ 1.0
当 X 射线照射到物体上时，它们会被吸收，但也会散射，这是一种不良现象，随着物体密度的增加而增加。来自部件所有点的散射会降低图像对比灵敏度，这在平板图像上可见。尼康计量学开发了专有的 CLDA，可优化穿过部件的 X 射线的收集，而不会捕获不需要的散射 X 射线。通过避免图像污染和相关的对比度降低，CLDA 实现了令人惊叹的图像清晰度和对比度。与直线阵列相比，二极管的线性阵列是弯曲的，通过保持 X 射线到二极管受体的路径长度恒定，可进一步提高图像质量。这允许使用更长的晶体来增强 X 射线灵敏度，从而提高信噪比并缩短扫描时间。
XT H系列一
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