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gdoes提供了元素深度轮廓，是分析涂层和处理过的材料表面和接口的强大工具。gdoes结合了由脉冲射频（脉冲RF）用光发射光谱仪提供动力的发光放电。GD等离子体尖端逐层旋转样品的代表区域，同时激发了提取的原子。通过高分辨率光学元件检测到所获得的发光，给出了元素组成，而侵蚀速率，层厚度和深度则是用内置的专利差异干涉仪（DIP）测量的。可以使用样品映射单元（可改装）进行GDOES操作的完整自动化。
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