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虽然PXRD是获得有关材料的固态结构的最简单,最快的方法,但单晶X射线差异(SC-XRD)仍然是有关分子构成和周期性排列的综合数据的金标准。从粉末数据(SDPD)中确定结构也是晶体结构确定的一种活跃而实践的方法。然而,高质量的粉末X射线差异数据和对专家晶体学家的访问可能是要求,而使用的方法比SC-XRD涉及更多的时间,约束和试验和错误,然后才能获得分子有机晶体的成功。2 - 4统计评估是否可以通过Rietveld
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