图2。(a)使用THZ-SNOM设备测量的散射THZ信号的空间映射;图像16×16μm2。丝带的宽度为𝑤= 3.4 µm,它们被空间隙隔开0.5μm;阵列的周期为𝐿= 3.9 µm;石墨烯填充分数为87%。(b)石墨烯丝带研究阵列的AFM高度轮廓(5×5 µm的高分辨率图像!);明确观察到由于SIC露台步骤而引起的高度变化。(c)同一区域的高分辨率Thz-snom图像。在此视图中,我们还区分石墨烯丝带中的SIC Terrace步骤。(d)对AFM记录的样品高度与在扫描过程中沿面板中指示的绿色水平线扫描期间获得的样品高度之间的比较(b,c)。对于散射的THz信号,减去背景(直线);减去背景的水平为〜9,(d)中绘制的Thz信号幅度表示使用相同的比例相对于此值的变化。
主要关键词