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在过去的几十年里,人们投入了大量的时间和精力来提高环氧模塑料 (EMC) 封装的半导体封装翘曲的可预测性。借助先进的计算力学技术和计算硬件,人们可以模拟几乎任何类型的封装。数值预测所需的热机械性能,包括热膨胀系数 (CTE)、玻璃化转变温度 (T g ) 以及随温度和时间变化的粘弹性能,通常通过热机械分析仪 (TMA) 和动态机械分析仪 (DMA) 等商用工具进行测量。此外,可以使用基于阴影莫尔条纹和数字图像相关 (DIC) 的商用工具轻松测量随温度变化的翘曲。尽管付出了巨大的努力,但准确的预测仍然是一项艰巨的任务。EMC 通常占据封装体积的很大一部分,因此在封装翘曲行为中起着重要作用。这篇评论文章研究了关键的 EMC 属性对翘曲行为的影响。基于文献中报告的数据和分析,本文讨论了导致预测仍然困难的三个潜在原因,并讨论了应采取哪些措施才能将预测能力达到所需水平。