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紫外光可以选择性激发QD供体，而FP和FD表现出的相对较窄的吸光度带通常会导致受体的直接激发。相比之下，QD-QD FRET在传感应用方面的研究不如QD-FP(D) FRET深入。14,15QD吸光度曲线的宽带性质使直接激发不可避免，干扰了基于观察受体敏化发射的分析。可以通过评估供体荧光寿命的变化来规避这个问题，因为它不直接受到高受体背景信号的影响，但是这些测量的实验设置和分析可能比收集和分析光谱数据更困难且更耗时。此外，PL寿命仪器不太普及，很少配备有助于测量多种样品条件的读板机。最近，QD已非常成功地用作镧系元素配合物的FRET受体。 16 在这些系统中，可以使用时间门控 PL 测量，这比寿命测量简单得多，并且可以通过许多商用平板读数器进行测量。然而，由于其出色的亮度，QD – QD FRET 的开发对于具有易于读取的视觉输出的即时诊断传感器 (POC) 可能很有意义 — 特别是，† 提供电子补充信息 (ESI)。参见 DOI：10.1039/d0an00746c
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