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本论文是LRN的“有机电子”团队进行的研究项目的一部分。团队对有机晶体管的制造，表征和建模特别感兴趣。现在特别关注这些组件的限制机制，特别是它们在电应力下的漂移。我们依靠KPFM（开尔文探针显微镜）和TER（尖端增强的拉曼光谱法）技术在电气应力下进行局部测量。该项目受益于Nanomat平台的有利环境，以及与UTT和Eur Nanophot的合作，以在光学近场部分中进行。尤其是LRN在电气近场表征领域开发了经过验证的专有技术，与对有机晶体管物理学的很好了解。
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