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本文介绍了一种用于太空太阳能电池的温度加速寿命试验 (ALT)。该试验在黑暗条件下进行，以避免照明 ALT 固有的问题。该 ALT 是我们之前在黑暗条件下仅使用正向偏置的 ALT 的演变。现在，通过正向/反向偏置模拟太阳能电池的工作条件。正向偏置模拟照明下的电气性能，而反向偏置模拟日食期间或任何其他阴影事件（例如天线也可能投射阴影）的阴影。正向与反向时间比为 4:1。此外，当前 ALT 中使用的高温（190、210 和 230 ◦ C）可大大缩短测试时间。此次 ALT 在商用 GaInP/Ga(In)As/Ge 三结太阳能电池上获得的结果表明，退化模式与并联电阻的降低有关，即 GaInP 顶部子电池中发生分流引起的初始退化，随后 Ga(In)As 中间子电池中的并联电阻降低。当前 ALT 中的活化能 (1.06 eV) 高于之前的活化能 (0.88 eV)。反向偏置会促进与正向偏置类似的退化，但更强烈，即在更短的时间内。因此，反向偏置产生的可靠性明显低于之前没有反向偏置的 ALT。尽管可靠性有所降低，但在标称温度 80 ◦ C（许多 GEO 任务的典型温度）下，90% 可靠性的时间为 32 年连续运行。因此，这些太阳能电池似乎非常坚固，并且对于许多太空应用具有很高的可靠性。应该注意的是，这些数字仅与高温引起的退化有关，这里不考虑辐射等其他压力源。
太阳能材料与太阳能电池
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