摘要 逻辑、存储器、光子、模拟和其他增值功能的异构集成是提高电子系统效率、性能和带宽同时有助于降低总体制造成本的一种方法。为充分利用异构集成的优势,设计人员需要更精细分辨率的重分布层图案和更大的封装尺寸,以最大限度地提高系统级封装集成的可能性。大封装电子系统的生产非常适合面板级封装 (PLP),而在整个矩形面板上实现均匀的亚微米图案化是一项关键的光刻挑战。为应对这一挑战,佳能开发出第一台能够在 500 毫米面板上实现亚微米分辨率的光刻曝光系统或步进机。步进机具有面板处理系统,可处理最大尺寸为 515 mm x 515 mm 的面板,还配备了宽视场投影镜头,其最大数值孔径为 0.24,像场为 52 mm x 68 mm。本文将报告使用面板步进机的亚微米 PLP 工艺的评估结果,并介绍高分辨率 PLP 工艺的挑战,包括翘曲面板处理。将报告覆铜板 (CCL) 基板的工艺结果,包括图案均匀性、相邻镜头拼接精度和包含扇出工艺中常见的芯片放置误差的基板上的叠加精度。关键词先进封装、扇出、面板级封装、步进机、亚微米、光刻、系统级封装
主要关键词