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¥ 1.0
图 S4：在“计算 T 跳跃”实验中，对所有四个序列的慢速（解离）和快速（磨损）响应的指数拟合。从 120 个独立的 1 µ s 模拟中，我们通过记录中心沃森-克里克碱基对完整的序列分数随时间的变化来汇编慢速响应数据，并通过记录两个末端沃森-克里克碱基对完整的序列分数随时间的变化来汇编快速响应数据。如果两个互补碱基的质心位于 1.3 nm 的线性距离内，我们定义沃森-克里克碱基对为完整的。我们通过将衰减指数拟合为结合 A:T 末端分数随时间的变化来提取 k fast d 的计算估计值 f unfrayed ( t ) = exp( − k fast dt ) 。类似地，我们通过将衰减指数拟合到杂交序列分数与时间的函数 f hybridized ( t ) = exp( − k slow dt ) 来提取 k slow d 的计算估计值。我们在每个面板的图例中报告了模型与对数空间中的数据的最小二乘线性拟合的判定系数 R 2 （即，log ( f ) = − kdt ），并且数据绘制在对数线性轴上以便于直观地比较拟合值。在所有情况下，我们都观察到模型与数据的极好拟合，所有 R 2 > 0.88，除了在最低温度 T m - 5 K 下的慢响应，其中解离事件稀疏。
支持信息 - 芝加哥知识大学
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