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摘要:已知半导体电极的表面化学计量法会影响光电化学(PEC)响应。迄今为止,有几份报告暗示了表面BI:V比对Bivo 4 PhotoAnodes太阳能水氧化性能的影响,但仅据报道,只有少数策略能够负担这种表面化学计量,而对表面终止的原子终止作用的全面了解仍然是难以理解的。在此,我们报告了一种新的方法,该方法可以调节表面BI:V比,进而将PEC的性能最大化,朝着氧气进化反应(OER)。我们发现,在存在Metavanatrate铵的情况下退火会大大降低表面重组,同时改善电荷分离。详细的表征表明,这种处理填充了天然表面钒空位,发现该空位充当重组中心,同时诱导了氧气空位密度的显着增加,从而增强了驱动电荷分离的内置电场。有趣的是,用Nifeo X涂层改善,尤其是在表面V-Bivo 4中的电荷分离。结果表明,富含V的表面终止改变了BIVO 4的表面能量,从而导致界面上的带状对齐。总体而言,这些结果提供了一个新的平台,以调节Bivo 4薄膜的表面化学计量法,同时为表面终止控制PEC响应的机制提供新的光。

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