图3。照片和拉曼2层的电化学测量。(a)在PMMA涂层的SI底物上的光学微图和MOS 2片。(b)选定的单层/几层/散装薄片区域的AFM显微照片。(c)光电化学设置的示意图。(d)E 2G /SI强度比的拉曼图。(e)PL强度图在690 nm波长处。(f)和(g)拉曼光谱分别显示了两个主MOS 2频段和Si频段,以及它们的MOS 2层数量。(h)单层/几层/块状MOS 2的PL光谱。分别通过浅蓝色和深蓝色正方形在(a)中指示了用于AFM测量的区域(B)和Raman(d)和PL(E)地图。在(d,e)中以彩色十字表示的斑点记录了拉曼和PL光谱。(经[50]的许可转载。版权所有2016年美国化学社会。)
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