具有最佳能量分辨率的低能X射线对低能X射线的有效检测需要应用硅漂移检测器(SDDS)和高级应用程序特定的集成电路(ASIC)。与专门的基础科学项目一起,它们在物质科学中的广泛使用长期以来仅限于在低温下工作的单个选择的SDD元素。这是因为在相当详尽的平面技术生产过程中产生的限制,并且需要达到非常低的泄漏电流水平,以及对高度专业化的读取电子产品的需求。我们在这项审查工作中描述了RedSox合作的努力的具体结果,以开发基于多像素单片硅漂移探测器和定制设计的高级读数电子设备,能够处理用于高光谱的高光谱,但适用于应用程序的高光谱,但可用于代表各种应用程序。
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