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¥ 2.0

这两个测试模型。例如,当IC向下滑动运输管时,它会充电,并在撞到接地钢桌时将其放电。因此,CDM(带电的设备模型)是在八十年代初期开发的,以解释这种损坏。

防止静电放电(ESD)

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