一段时间以来，电子行业已经认识到静电放电 (ESD) 是潜在损坏源，尤其是对半导体器件而言。在此期间，人们一直在努力开发有意义的人体 ESD 脉冲和能够反复将不同电压水平的脉冲施加到半导体器件的设备。目的是确定部件承受特定电压水平的 ESD 脉冲的能力，并将该信息用作部件坚固性的指标。目前，可用设备能够施加在 MIL-STD 883C 等规范中经常描述的 ESD 脉冲作为人体脉冲；但这是正确的脉冲吗？最近的技术论文提出了一些关于 ESD 波形和捕获该波形的方法的有趣问题。IEC 801-2 等规范也导致了 ESD 波形的明显混乱，这些信息来源共同成为促进此项调查的催化剂。