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用于 LIDT 测量的光栅扫描应用每年都越来越受欢迎。当光学元件的零散缺陷密度较低时（其他测试协议往往会高估 LIDT），这是一种非常有用的程序。此外，光栅扫描通常用于认证大口径光学元件，以及需要了解最坏情况的情况。现在，Lidaris 可以从标准光栅扫描测试中提供更多信息。新增一项功能——根据激光辐照水平统计激光诱导表面物体的辐射强度。
2024年激光损伤生存指南
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