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使用建议的数量（提供样本量的范围），建议根据本文档中概述的测试组进行包装的光子组件测试。可以将通过测试解释为对包装光子组件设计的早期验证，并确信整个资格测试很可能通过。在此阶段的失败将提供有用的设计反馈，以允许在不产生全部资格测试方案的大量成本的情况下执行新的设计迭代。建议的测试仅是指南，并且包装的光子设备制造商，供应商和最终用户可以根据需要根据特定设计功能，应用程序环境需求，先前的经验和/或其他特定关注的领域根据需要根据需要量身定制该测试方案。
航空航天应用的综合光子学资格指南
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