然而,组织工程并不是唯一受益于逃亡材料的研究领域。自2000年代初以来,使用散散射墨水的3D打印而创建的微通道越来越引起人们的关注,作为微流体学领域中传统软性光刻技术的一种替代方法。这些系统涉及在将微通道网络从2D扩展到3D时的软光刻的持久限制。Therriault等人的开创性工作。[8]证明了将AM扩展到包括3D微通道网络在内的微流体的可能性。尽管3D打印原理为微流体提供了令人兴奋的新机会,但软光刻方法仍然比传统的3D打印技术(例如挤出印刷或立体光刻学)保持优势,在达到小型特征尺寸和高表面质量时。[9,10]虽然基于挤出的技术主要传递了毫米尺寸的尺度,但立体光刻可能会将边界推向100 µm以下。但是,实现此类决议的市售树脂和打印机非常有限。[9]作为常规3D打印技术的替代方法,诸如用于液体打印的液体填充空隙[11]和两光子直接激光写入聚合[12]允许制造特征大小以下50 µm。但是,这些
曝光 f.2。套刻精度大于1.5纳米且小于(优于)等于或小于4.0纳米的压印光刻设备。 f.2.压印光刻设备 3B993.f.2 具有 1.5 纳米或以上、4 纳米或以下(或更好)的重叠精度。导出至实体列表脚注5时
壳聚糖是由114批量的Mahtani壳聚糖提供的,其乙酰化度(DA)为2%,由1 H NMR确定,质量平均摩尔质量(m w)为619 kg/mol,分散剂(ð)的分散剂(1.6),由尺寸 - 1.6,通过尺寸 - 散发性切除率确定。壳聚糖以1、2-丙二醇和ACOH(50/50 V/V)的水醇混合物中的0.5%(w/v)以0.5%(w/v)的形式进行乙酰基壳。在剧烈的机械搅拌下将壳聚糖(GLCN)单位的静态藻类添加到D-葡萄糖(GLCN)单元中,并混合18小时以达到靶向DA。然后将壳溶液通过纤维素膜过滤,孔径从3 µm降低至0.45 µm。乙酰化的壳聚糖最终用NH 4 OH沉淀,用去离子水洗涤并冷冻干燥。乙酰化的壳聚糖,DA为35%,M W的693 kDa和1.8的分散性。
半导体价值链中的复杂性和巩固是由荷兰的ASML插图的,这是世界上几乎每个芯片制造商使用的光刻机器制造商。当一家芯片制造公司以1亿美元(USD)以北的价格从ASML购买一台光刻机器时,它将购买了一件非常复杂的设备,其中有超过400,000个零件来自“数千家公司的精心调整系统”。 10位分析师指出,ASML对全球光刻机器市场的80%至100%的捕获归功于该公司在供应链管理方面的高级技能和经验,这与首先投资了数十亿美元有关设计和开发机器的投资。11
半导体价值链中的复杂性和巩固是由荷兰的ASML插图的,这是世界上几乎每个芯片制造商使用的光刻机器制造商。当一家芯片制造公司以1亿美元(USD)以北的价格从ASML购买一台光刻机器时,它将购买了一件非常复杂的设备,其中有超过400,000个零件来自“数千家公司的精心调整系统”。 10位分析师指出,ASML对全球光刻机器市场的80%至100%的捕获归功于该公司在供应链管理方面的高级技能和经验,这与首先投资了数十亿美元有关设计和开发机器的投资。11
周期性三维模式的抽象光刻缩放对于推进可扩展的纳米制造至关重要。当前最新的四型构图或极端紫外线图的线螺距下降到30 nm左右,可以通过复杂的后制造过程将其进一步改进到20 nm。在此,我们报告了使用三维(3D)DNA纳米结构的使用将线螺距缩小至16.2 nm,比当前最新结果小约50%。我们使用DNA模块化外延方法来制造具有规定的结构参数(俯仰,形状和临界维度)沿设计器组装途径的规定的3D DNA掩模。单次反应离子蚀刻,然后以7 nm的横向分辨率和2 nm的垂直分辨率将DNA模式转移到Si底物。DNA模块化表现的光刻相比,在现场效应晶体管中,高级技术节点的预期值的音调更小,并为现有的光刻工具提供了用于高级3D纳米制造的现有光刻工具的潜在补充。
EMLC 会议每年都会汇聚来自世界各地的研究机构和公司的科学家、研究人员、工程师和技术人员,展示他们在掩模和光刻技术方面的最新发现。EMLC 2023 会议致力于研究、技术和相关工艺。它概述了掩模和光刻技术的现状和未来战略。掩模制造商和用户有机会熟悉最新的发展和成果。
为了生产二维材料的纳米结构,通常使用自上而下的技术,例如光刻[6]、电子束光刻(EBL)[7]和离子束光刻[8]。最近观察到,使用电子或离子的光刻技术可能会导致二维材料的结构损伤[9]或增加抗蚀剂污染,而这些污染需要通过等离子清洗去除。[10]激光烧蚀是一种无抗蚀剂的一步式替代方法[11–13],但光学衍射极限阻碍了其在需要亚微米分辨率的场合使用。自下而上的技术,例如化学气相沉积和位置选择性生长[14,15],可实现可扩展性和高分辨率。然而,复杂器件结构的可重复制造和器件集成仍未解决。扫描探针光刻(SPL)包含一组纳米光刻技术,可实现需要超高分辨率的独特应用。 [16] SPL 的工作原理基于纳米探针和表面之间的各种物理和化学相互作用,并且已应用于 2D 材料的机械划痕、[17] 局部氧化、[18,19] 和浸笔工艺。[5] 具体来说,热扫描探针光刻 (t-SPL) 是一种新兴的直写方法,它使用加热的纳米尖端进行 2D 和 3D 减材/增材制造。[20–22] t-SPL 的图案创建是通过使用加热的纳米尖端连续压痕样品同时扫描样品来完成的。除了超快写入之外,还可以用冷尖端对样品进行成像,类似于传统的原子力显微镜 (AFM),从而实现闭环光刻和图案叠加。在这里,我们表明,通常应用于可升华聚合物的热机械压痕技术也允许直接切割 2D 材料。为此,我们在环境压力和温度下使用 t-SPL,通过加热的纳米尖端局部热机械切割 2D 材料的化学键。展示了单层 MoTe 2 的 20 纳米分辨率图案,以及它对其他 2D 材料(如 MoS 2 和 MoSe 2)的适用性。相对于 EBL,所提出的技术不需要高真空并可避免电子诱导损伤,因此可以非常经济高效的方式轻松实施,以制作高质量 2D 纳米结构的原型和制造。对于大多数应用,2D 材料的功能性纳米结构必须通过光刻技术进行图案化。在这里,我们开发了一种用于单层 2D 材料的一步光刻技术,也称为直接纳米切割,使用热机械压痕法,如图 1 a 所示。为此,我们将 2D 材料薄片直接转移到 50 纳米厚的可升华聚合物层上,该层由旋涂机制成,然后通过热机械压痕法进行图案化。
参考文献中引入的设计。1需要-20 dB的最大回报损失,可以通过使用纯CPW线结构在下部阻抗侧使用1- µm间隙宽度来实现。在许多研究设施中,通过光刻工具以高收率制造这样的CPW线是不可行的。相比之下,我们对克洛普芬斯坦锥度的设计需要在较低阻抗侧的间隙宽度为3 µm,这是可以使用常用的光刻光刻工具可以很容易地实现的。另一方面,klopfenstein锥的-10 dB最大回报损失导致-0.45 dB的最小插入损失。当信号通过Klopfenstein锥度两次时,这种插入损失将使信号增益降低-0.9 dB,与放大器的标称15至20 dB增益相比,这是可以忽略的。