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¥ 1.0
图 1. a) 在施加磁场的情况下演示超导自旋读出电路的微波测量。顶部插图显示了一个用于测量的超导自旋读出电路支架。底部插图是自旋参考材料，安装在超导谐振器的中心位置，准备进行自旋检测测量。b) 准备用于自动扫描电子显微镜图像捕获的晶圆。可以看到的精细结构是精密对准标记，有助于以纳米精度定位合适的设备材料。c) 由 Archer 的下一代基于薄膜的自旋材料制成的概念验证设备，可提高可制造性，显着降低电阻，并可能增加自旋寿命。
Archer 生产了两种概念验证设备来改进...
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