摘要:在我们最近发表的论文中(Y.-Y.Wang等人,高性能lanio 3-缓冲,(001)面向的PZT PIDZOELECTRICRICRICRICFMS集成在(111)Si,Appl。物理。Lett。 121,182902,2022),高度(001)面向的PZT纤维,据报道,在(111)SI底物上制备了较大的横向压电系数E 31。 这项工作对压电微型机电系统(Piezo-MEMS)的发展是有益的,因为(111)SI的各向同性机械性能和理想的蚀刻特性。 然而,在这些PZT薄膜中实现高压电性能的基本机制尚未彻底分析。 在这项工作中,我们在微观结构(XRD,SEM和TEM)中提供了完整的数据集,以及对这些薄膜的电气性能(铁电,介电和压电),典型的退火时间为2、5、10和15分钟。 通过数据分析,我们揭示了调整这些PZTFIM的电性能的竞争效果,即,消除时间增加了残留的PBO和纳米孔的增殖。 后者被证明是压电性能恶化的主导因素。 因此,最短退火时间为2分钟的PZT纤维显示出最大的E 31,F压电系数。 此外,可以通过纤维形态变化来解释性能降解10分钟,这不仅涉及晶粒形状的变化,而且还涉及大量纳米孔在其底部界面附近的产生。Lett。121,182902,2022),高度(001)面向的PZT纤维,据报道,在(111)SI底物上制备了较大的横向压电系数E 31。这项工作对压电微型机电系统(Piezo-MEMS)的发展是有益的,因为(111)SI的各向同性机械性能和理想的蚀刻特性。然而,在这些PZT薄膜中实现高压电性能的基本机制尚未彻底分析。在这项工作中,我们在微观结构(XRD,SEM和TEM)中提供了完整的数据集,以及对这些薄膜的电气性能(铁电,介电和压电),典型的退火时间为2、5、10和15分钟。通过数据分析,我们揭示了调整这些PZTFIM的电性能的竞争效果,即,消除时间增加了残留的PBO和纳米孔的增殖。后者被证明是压电性能恶化的主导因素。因此,最短退火时间为2分钟的PZT纤维显示出最大的E 31,F压电系数。此外,可以通过纤维形态变化来解释性能降解10分钟,这不仅涉及晶粒形状的变化,而且还涉及大量纳米孔在其底部界面附近的产生。
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