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量子过程断层扫描是构建量子计算机，启用量子网络并了解量子传感器的关键能力。像量子状态断层扫描一样，任意量子通道的过程层析成像需要多个测量值，这些测量值在量子位的数量中呈指数缩放。然而，应用于量子状态的影子tomog-raphy的最新领域已经证明了能够提取有关状态的关键信息的能力。在这项工作中，我们将影子状态断层扫描的概念应用于表征量子过程的挑战。我们利用Choi同构直接将严格的界限从阴影状态层析成像到阴影过程断层扫描中，并且在过程断层扫描中独有的测量数量上找到了其他界限。我们的结果，包括用于实现阴影过程刻度的算法，启用新技术，包括评估通道串联以及将通道应用于量子状态的阴影。这为理解大规模量子系统提供了巨大的改进。
量子通道的阴影过程断层扫描
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