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电阻抗断层扫描 (EIT) 是一种新兴的成像技术，在许多领域都具有巨大潜力，尤其是在功能性脑成像应用方面。高速、高精度的 EIT 系统可以应用于多种医疗设备，用于诊断和治疗神经系统疾病。在这项研究中，EIT 算法和硬件得到了开发和改进，以提高重建图像的准确性并缩短重建时间。由于多路复用器设计的限制，EIT 测量会受到开关周期内充电和放电的强烈电容效应，大约每 1280 个样本（10 毫秒采样）有 300 到 400 个样本。我们开发了一种算法，可以选择性地选择处于稳态的数据。这种方法提高了信噪比，并产生了更好的重建图像。我们开发了一种有效同步数据起点的算法，以提高系统速度。本演讲还介绍了基于德州仪器定点数字信号处理器 - TMS320VC5509A 的 EIT 系统硬件架构，该处理器成本低，未来在社区中具有很高的普及潜力。为了提高运行速度，我们建议 EIT 系统使用德州仪器的 Sitara™ AM57x 处理器。
阻抗断层扫描成像 - NSF-PAR
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