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Kulr Technology的内部短路装置(ISC)是触发锂离子细胞中热失控(TR)的验证方法。最初是由NASA和NREL开发的,该专利技术实现了与指甲或加热器方法触发的事件更紧密地模拟实际场地故障的热失控事件。kulr技术专门从NASA和NREL获得了ISC设备技术,允许其包含在各种细胞类型中,包括18650、21700或小袋单元。通过故意触发ISC设备,可以测试这些电池和电池组的故障模式和安全问题,这使其成为研究机构,电池制造商和OEM寻求增强其锂离子电池性能和安全性的宝贵工具。

内部短路(ISC)

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