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机构名称:
¥ 5.0

1. 使用 X 射线衍射识别晶体结构并确定晶格常数。 2. 研究半导体中的霍尔效应并确定载流子浓度。 3. 测量不同材料的磁化率。 4. 用四探针法测量半导体晶体(Ge 和 Si)的电阻率随温度的变化。 5. 在均匀磁场中展示非铁磁性。 6. 研究铁芯的磁滞。 7. 研究金属线的弹性和塑性延伸。 8. 确定各种晶体类别的晶胞。 9. 用条形磁铁确定 e/m 值 10. 进行弗兰克-赫兹实验 11. 研究碱金属卤化物中 F 中心的热释光 12. 用双探针法测量绝缘体的电阻率随温度的变化。 课程成果

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