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为了将空间分辨率极限推向纳米级，基于同步加速器的软 X 射线显微镜 (XRM) 实验需要向材料施加更高的辐射剂量。然而，相关的辐射损伤会影响精细生物样品的完整性。本文报道了软 X 射线辐射损伤在安装在 Si 3 N 4 膜上的常见薄冻干脑组织样本中的程度，如傅里叶变换红外显微镜 (FTIR) 所示。研究发现，冻干组织样本受到振动结构普遍退化的影响，尽管这些影响比文献中报道的石蜡包埋和水合系统中观察到的影响要弱。此外，在常规软 X 射线曝光中，首次可以识别出组织-Si 3 N 4 相互作用的弱、可逆和特定特征，进一步突出了生物样本、其制备方案和 X 射线探针之间的复杂相互作用。
通过 FTIR 显微镜研究干燥脑样本 - IUCr 期刊
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