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本指南介绍了在绝缘样品的 XPS 分析过程中控制表面电荷的方法以及提取有用结合能信息的方法。本指南总结了表面电荷的成因、如何识别表面电荷的发生、最小化电荷累积的方法以及在使用电荷控制系统时调整或校正 XPS 光电子结合能的方法。在 XPS 测量过程中，有多种方法可以控制表面电荷累积，并介绍了先进 XPS 仪器上的系统示例。没有单一、简单且万无一失的方法来提取绝缘材料的结合能，但介绍了几种方法的优点和局限性。由于方法各异且每种方法都有局限性，研究人员必须准确描述研究报告和出版物中应用的程序。
XPS 指南：绝缘样品的电荷中和和结合能参考
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