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现场可编程栅极阵列（FPGA）由于有能力，低价和高性能等优势，因此受到了各种领域的研究人员的广泛关注。商业FPGA越来越多地用于卫星和其他航天器中。然而，航空航天环境带来了严重的挑战，这是由于带电的颗粒可以轻松在基于SRAM的FPGA的资源中引起单事件效应（参见），例如可配置的逻辑块（CLBS）和块状-RAMS（BRAMS）[1]。因此，在将FPGA的敏感性应用于航空航天工程时，有必要评估它们的敏感性。考虑到单事件不适（SEU）是最常见的现象，因此对FPGA的SEU评估对于采用有针对性的方法来加强设备至关重要。随着技术的缩放，FPGA的特征大小降低到28 nm甚至更小，FPGA中每瓦的资源和性能量得到了极大的改善。seu发生时，当粒子弹动一个单个存储单元时，当粒子在同一帧中的几个位时，在FPGA中发生了多位upsess（MBU）。特征大小的降低的影响很复杂：降低特征大小会导致细胞之间的距离降低。然后粒子可以影响几个细胞，因此，MBU在FPGA上的概率变得更高。此外，还降低了导致浮动的LET阈值，这会导致SEU敏感性增加，这是由于特征尺寸的降低而增加[2]。已经对FPGA进行了大量研究，其特征大小为28 nm甚至更小。最近的工作[3]描述了不同的
质子诱导的单事件对28 nm Kintex-7 FPGA
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