点击购买，资源将自动在新窗口打开.
获取独家产品信息，尽享促销优惠！立即订阅，不容错过
* 限···时··优惠
在像差校正的透射电子显微镜下以纳米尺度开发定量电子磁圆二色性技术（EMCD）。在原子平面分辨率下，开发定量磁性和旋转倾斜测量。与最近开发的自旋偏振中子技术相比，相同的技术也通过相同的技术揭示了表面自旋倾斜的几何形状。纳米级带隙测量。在原子长度尺度上进行定量成像。高级传输电子显微镜中的图像模拟和重建。在材料中，ZnO，TE和S掺杂ZnO，各种2D材料及其异质结构的大面积外延生长有多种贡献。
主要关键词
