机构名称：
¥ 3.0
图1：来自Operando XCT的实验设计和选定图像。（a）操作XCT细胞设计，成像和图像重建过程的示意图。（b）在0.5 mA CM -2电流密度，10 MPa堆栈压力和25°C下，在Operando XCT实验中循环的硅半细胞的电静态电压谱图。XCT图像是在第一次锂化之前和之后收集的，然后在划界和重新构度期间每15分钟收集一次。（c）从XCT数据中重建单元堆的3D渲染，突出显示了不同的2D切片。（d）垂直横截面图像显示了（i）原始的硅/LPSC界面，（ii）锂化，（iii）界定，（iii）截然不见，（iv）重新列为较高的状态，false-Color叠加层，突出显示了（I）中的硅和LPSC。（E-G）平面图像来自（e）锂化，（f）删除和（g）重新列为的硅电极中点的平面图像。
硅阳极固态电池中的断裂动力学
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