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电子产品的辐射敏感性一直是探测瞬态或时间累积现象中的电气特性。随着电子芯片或系统的尺寸和复杂性增加，检测最脆弱的区域变得更加耗时和具有挑战性。在这项研究中，我们假设局部机械应力如果与电气敏感区域重叠，会使电子设备更容易受到辐射。因此，我们开发了一种间接技术来映射机械和电气热点，以识别运算放大器 AD844 对电离辐射的辐射敏感区域。使用脉冲热相分析通过锁定热成像测量机械敏感性，并使用电偏置来识别电气相关区域。构建了电气和机械敏感性的综合评分，作为电离辐射敏感性的指标。与文献相比，实验结果表明新技术在快速检测辐射脆弱区域方面是有效的。这些发现对于较大的系统可能很有吸引力，因为传统的分析需要多花两到三个数量级的时间才能完成。然而，该技术的间接性质使研究更加近似，需要更多的一致性和验证工作。
快速检测电子产品中辐射敏感区域
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