机构名称：
¥ 1.0
存储可靠性对于在其整个生命周期中大部分时间处于存储状态的产品非常重要，例如用于有害辐射检测的警告系统和多种防御系统等。通常，可以获得现场测试数据，但由于信息被屏蔽，串联系统的故障原因并不总是已知的。本文在考虑屏蔽数据的情况下，采用统计分析方法研究了可能存在初始故障的存储可靠性模型。为了优化存储系统屏蔽生存数据的使用，提出了一种基于最小二乘 (LS) 方法和 EM 类算法的串联系统技术。通过应用算法更新测试数据，开发了基于 LS 方法的参数估计程序，然后研究了串联系统组成部件的初始可靠性和故障率的 LS 估计。在指数分布的存储寿命的情况下，提供了一个数值示例来说明该方法和程序。结果应该有助于准确评估生产可靠性、确定生产质量和规划存储环境。关键词 这是一篇根据 CC BY 许可协议开放获取的文章（https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/）
维护和可靠性
主要关键词
相关文件推荐
