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对于 Ge 光谱测定，应用最新技术，与无屏蔽情况相比，背景可降低 5 到 6 个数量级。这种降低系数适用于连续背景光谱，也适用于线背景，如图 1 所示，这是海德堡-莫斯科双重 beta 衰变实验 [1] 的 Ge 探测器。图 1 的上部光谱是在 MPI-Kemphysik [2] 的低级实验室中无屏蔽测量的，而下部光谱是在 Gran Sasso 实验室 [3] 的纯铅屏蔽中测量的。要实现如此大幅的背景降低，只有非常仔细地选择探测器和屏蔽材料以获得低放射性、尽可能缩短晶体和这些材料的宇宙射线曝光时间、在组装阶段进行酸性表面清洁和洁净室条件、通过覆盖层对宇宙射线进行强力屏蔽以及在测量过程中完全抑制氡。通过这些预防措施，几个月的测量时间可以达到几十 n Bq/kg 的灵敏度。对于样品周转时间短得多的正常实验室工作，测量任务可能只需要较少的努力就足够了。如果我们比较图 1 所示光谱的典型检测限（根据 DIN 25482-5 [4] 的 d.l.），例如 250 keV，假设背景连续（检测到的峰值下没有线背景）和 1 小时的测量时间，这一点就变得显而易见了。结果只是低了 34 倍 d
LOWRAD 96. 低水平放射性测量方法和应用。会议记录
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