摘要。表面能量表征对于设计可靠的电子设备的制造过程很重要。表面能量受表面功能和形态等各种因素的影响。由于高表面与体积比率,纳米级的表面能与散装的表面能有所不同。然而,由于表征有限的表征量有限,因此无法将表面能(如无梗液或刷毛方法)表征表面表征的常规方法。最近,已经提出了使用原子力显微镜(AFM)在纳米级上进行表面能表征,并提出了具有峰值力量定量纳米力学映射(PF-QNM)成像模式的表面能。纳米级AFM尖端测量纳米级的粘附力,该粘附力通过预校准的曲线转化为表面能。先前已经报道了使用AFM与PF-QNM方法对纳米级金属样品的成功表面能表征。这项微型审查讨论了使用PF-QNM方法使用AFM在纳米级表面表征的最新进展。引入了PF-QNM模式的基本原理,并总结了表面能表征的结果。因此,讨论了纳米级表面能量表征的未来研究方向。
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