机构名称：
¥ 1.0
当X射线击中对象时，它们被吸收但也散射，一种不希望的现象会随着物体的密度增加而增加。散布来自零件的所有点，都降低了图像对比度灵敏度，在平板图像中可见。尼康计量学已经开发了一个专有的CLDA，该CLDA优化了X射线穿过零件的收集，而无需捕获不需要的散射X射线。通过避免图像污染和相关的对比度减少，CLDA意识到了惊人的图像清晰度和对比度。与直阵阵列相比，二极管的线性阵列弯曲以进一步增强图像质量。这允许使用更长的晶体来增强X射线灵敏度，从而提高信噪比并减少扫描时间。
高级工业X -Ray和CT
主要关键词
相关文件推荐
