机构名称：
¥ 1.0
氧空位在塑造金属氧化物的特性中起着至关重要的作用，例如催化，铁电性，磁性和超导性。尽管X射线光电子光谱（XPS）是一种健壮的工具，但准确的氧气空位定量仍然是一个挑战。XPS分析中的一个常见错误是将O 1 S光谱中的531 - 532 eV特征与氧空位相关联。这是不正确的，因为空的氧气位点不会发出光电子，因此不会产生直接的XPS光谱特征。为了解决这个问题，我们提出了三种通过间接特征通过XPS进行氧气空位分析的替代方法：（1）量化阳离子价状态变化，（2）通过归一化的氧气光谱强度和（3）评估FERMI能量从粘合En-Ergy中的电量移位来评估Fermi Ensightic Engy的Fermi Ensive变化。推荐的策略将促进氧气空位的精确XPS分析，从而促进未来的理解和操纵氧空位以进行先进材料开发的研究。
推荐使用X射线光电学光谱量化氧空位的策略
主要关键词
相关文件推荐
