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计量数学与统计
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X射线计算机断层扫描（CT）是一种非破坏性成像技术，它采用穿透性电磁辐射来可视化、分析和量化测试对象的内部和外部结构。近年来，人们对CT在尺寸质量控制中的应用越来越关注，这促使人们研究将CT扫描仪作为计量仪器。一个主要的驱动因素是 CT 在相对较短的时间内对具有复杂内部几何形状的部件进行无损检测。断层扫描重建从一系列以不同视角获取的 2D 投影生成测量对象的 3D 体积表示。基于边缘的分割用于定义材料之间的过渡，从而产生对象的表面模型。然后使用表面采样提取表面的点云表示，可用于执行坐标测量。

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