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我们对基于有限深度量子电路编码局部哈密顿量的基态的变分量子特征值求解器的精度进行了基准测试。我们表明,在有间隙相中,精度随着电路深度的增加而呈指数提高。当尝试编码共形不变哈密顿量的基态时,我们观察到两种状态。有限深度状态,其中精度随着层数的增加而缓慢提高;有限尺寸状态,其中精度再次呈指数提高。两种状态之间的交叉发生在临界层数处,其值随着系统尺寸线性增加。我们在比较不同的变分假设及其描述临界基态的有效性的背景下讨论了这些观察结果的含义。
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