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使用这些先进的显微镜工具研究材料,为在原子层面探索其结构和化学性质提供了机会。电子光学和超灵敏探测器的最佳组合使得即使是最轻、最灵敏的材料也能在亚埃级进行表征。电子束中的像差校正使得能够通过同步 X 射线能量色散光谱和电子能量损失光谱 (EELS) 等技术精确获取原子级化学特性和键合状态信息。因此,最先进的电子显微镜技术对于材料研究至关重要。

AMMS - 2025 宣传册

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