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摘要在这封信中,我们提出了用于区域优化的自旋轨道磁性随机访问存储器(SOT-MRAM)的新结构。基于对SOT-MRAM布局的观察,即可以在水平方向添加金属线而不增加细胞区域,建议的设计优化了金属线路由方向以及偏向读取和写入操作的条件。与常规的SOT-MRAM(STT-MRAM)相比,该设计的设计使用45 nm CMOS技术实施,可实现42%(23%)的细胞区域减少。通过利用高自旋电流注入效率,提出的设计比STT-MRAM达到6.26倍的写入功率。此外,由于读取和编写当前路径,提出的设计可以独立优化每个路径,从而使读取功率较低7.69倍,而较高的读取磁性距离距离与stt-MRAM相比,该路径具有读写和写入操作的常见路径。关键字:MRAM,旋转轨道扭矩,区域优化分类:电子设备,电路和模块(硅,Com-pound半导体,有机和新型材料)

SOT-MRAM的区域优化设计

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