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[1] eDditional办公室,“用于调查核事故的灾难管理机器人的开发”,《灾难研究杂志》,第3卷,第4期,第4页,305-306,2008年8月。[2] Tomoharu doi,Mitsuyoshi Shimaoka,Shigekazu Suzuki,“由技术学院或Kosen教育工作者构想的创意机器人大赛”,《机器人和机械学杂志》,第34卷,第34卷,第34页,第3页,第498-508-508-508-508-508,20222222222.[3] Kenjiro Obara,Satoshi Kakudate,Kiyoshi Oka,Akira Ito,Toshiaki Yagi和Morita Yosuke,“ iTer远程维护的辐射硬度组件的开发”,《机器人和机械学杂志》,《杂志[4] Andrew West,Jordan Knapp,Barry Lennox,Steve Walters,Stephen Watts,“一台小COTS单板计算机用于移动机器人的辐射公差”,核工程和技术,第54卷,第54页,第54页。2198-2203,2022年12月。[5] Zhangli Liu,Zhiyuan Hu,Zhengxuan Zhang,Hua Shao,Hua Shao,Ming Chen,Dawei Bi,Dawei Bi,Bingxu Nig,Ru Wang,Shichang Zou,Shichang Zou,“全部剂量效应在高压记忆力和方法中,核工具和方法” pp.3498-3503,2010年9月。[6] Zhangli Liu Zhiyuan Hu, Zhengxuan Zhang, Hua Shao, Ming Chen, Dawei Bi, Bingxu Ning, Shichang Zou, “Comparison of TID response in core, input/output and high voltage transistors for flash memory,” Microelectronics Reliability, Vol.51, pp.1148-1151, March 2011.[7] Bingxu ning,Zhengxuan Zhang,Zhangli Liu,Zhiyuan Hu,Ming Chen,Ming Chen,Dawei Bi,Shichang Zou,“辐射诱导的浅沟裂缝隔离泄漏在180-NM FLSH内存技术中”[8] Sandhya Chandrashekhar,Helmut Puchner,Jun Mitani,Satoshi Shinozaki,Satoshi Shinozaki,Mohamed Sardi,David Hoffman,“辐射在16 nm浮动大门SLC SLC NAND闪光灯中诱导软沟,Microelectronics Reliaics Reliaics Reliaics”,第108卷,第11331页,第8页。

提高了在核反应堆中运行的机器人中安装的电子组件的辐射抗性

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