本文介绍了一种基于内建自测试 (BIST) 的高级加密标准 (AES) 加密处理器专用集成电路 (ASIC) 的设计。AES 已被证明是美国政府宣布的最强大的对称加密算法,其性能优于所有其他现有加密算法。其硬件实现比软件实现提供更高的速度和物理安全性。由于这个原因,文献中已经提出了许多 AES 加密处理器 ASIC,但复杂 AES 芯片中的可测试性问题尚未得到解决。本研究为实现混合模式 BIST 技术的 AES 加密处理器 ASIC 引入了一种解决方案,该技术是伪随机和确定性技术的混合。BIST 实现的 ASIC 是使用 IEEE 行业标准硬件描述语言 (HDL) 设计的。它已使用电子设计自动化 (EDA) 工具进行了模拟,并使用美国政府国家标准与技术研究所 (NIST) 的输入输出数据进行了验证和确认。模拟结果表明,该设计在 ASIC 的不同操作模式下按预期功能运行。将当前的研究与其他研究人员的研究进行了比较,结果表明它在 BIST 实现到 ASIC 芯片方面是独一无二的。
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