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扫描电子显微镜 (SEM) 是一种成像和分析技术,用于表征微米级和纳米级材料的结构和化学性质。目前,它被电池材料和电池制造商广泛用于材料研发、质量控制和故障分析过程中的有效表征工具。用于制造电池的材料差别很大;例如,隔膜材料是电绝缘的并且对光束敏感,而锂金属阳极样品是导电的并且对空气极为敏感。科学家和工程师面临着各种挑战,需要准确提取不同电池样品的结构信息。因此,SEM 制造商应为电池领域提供有关电池表征的样品处理和成像策略的指导。
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