机构名称：
¥ 1.0
纳米结构氧化铝中的微观结构、相形成和光带；J. Gangwar、KK Dey、Komal、Praveen、SK Tripathi、AK Srivastava；Advanced Materials Letters，2011，2(6)，402-408。“通过物理途径生长的块体碲化锡的特殊结构、光学、顺磁性、电子和电学行为”，Praveen Tanwar、AK Srivastava、Sukhvir Singh、AK Panwar，Advanced Science Letters，第 21 卷，第 9 期，2015 年 9 月，第 2855-2864(10) 页。“不同厚度碲化锡薄膜的微观结构和光学特性研究”，Praveen Tanwar、Amrish K. Panwar、Sukhvir Singh、AK Srivatava； Thin Solid Films 693 (2020) 137708。“不同厚度真空蒸发 SnTe 薄膜的结构、电学和热电性能比较”，Praveen Tanwar、AK Panwar、Sukhvir Singh、AK Srivastava、J. Nanosci. Nanotechnol. 2020, 20(6):3879-3887。“真空蒸发 SnTe 薄膜的结构、电学和热电性能研究”，Praveen Tanwar、Sukhvir Singh、AK Panwar、AK Srivastava，《印度纯粹与应用物理学杂志》第 58 卷，2020 年 10 月，第 740-749 页。 “SnTe 拓扑绝缘体上铟掺杂的超快探测”，Praveen Tanwar、Prince Sharma、AK Panwar、AK Srivastava、A. Kumar、Sukhvir Singh 和 M. Kumar；物理学 B 631 (2022) 413656。
博士普拉文·坦瓦尔
主要关键词
相关文件推荐
